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梅特勒XP205分析天平（江苏）

简要描述：XP205梅特勒XP205分析天平（量程220g，分辨率0.01mg）内置QM工具箱,包括用户管理和密码保护、Z小称量值功能、目标称量、统计功能、配方称量、密度测定、百分比称量、增强计件称量、4个用户可通过输入数字字母登陆。

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品牌	Mettler Toledo/梅特勒托利多

XP205梅特勒XP205分析天平

随着超越系列XP天平的诞生, 梅特勒-托利多在分析天平领域树立起了又一里程碑。*的技术带来了的称量性能，在人员，样品和数据安全方面设置了新的标准。

规格 - XP205 分析天平

zui大称量范围	220 g
可读性	0.01 mg
线性	0.1 mg
重复性	0.015 - 0.03 mg
灵敏度（温度漂移）	1 x 10^-6/°C •Rnt
秤盘尺寸	78 x 73 mm
去皮范围	0...220 g
灵敏度精度	2.0 x 10^-6 •Rnt
灵敏度稳定性	1 x 10^-6/a •Rnt
稳定时间	1.5 s
防风罩可用高度	235 mm
外部砝码校准	用户砝码
内部砝码校准	ProFACT专业全自动校准技术专业级全自动校准技术, 温度漂移和时间触发的全自动内校
尺寸	263x487x322 mm （DxH）
接口	RS-232C
Minimum weigh （typical acc. USP）	21 mg
Minimum weigh （typical, U=1%, sd=2）	1.4 mg
Sensitivity offset	2x10-6·Rnt
物料号（s）	11106024
商业名称	11106024

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